基于數(shù)據(jù)增強(qiáng)SDAE-BiGRU的交流接觸器剩余電壽命預(yù)測(cè)
摘要: 針對(duì)目前交流接觸器剩余電壽命存在單一特征預(yù)測(cè)精度低、未充分考慮開斷前后的關(guān)聯(lián)性和忽略了長(zhǎng)時(shí)間序列特點(diǎn)的問題,該文提出基于數(shù)據(jù)增強(qiáng)堆疊降噪自動(dòng)編碼器-雙向門控循環(huán)單元(stackeddenoisedautoencoder-bidirection gated recurrent unit,SDAE-Bi GRU)的交流接觸器剩余電壽命預(yù)測(cè)方法。首先,通過交流接觸器全壽命試驗(yàn)提取特征... (共15頁(yè))
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